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離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊

簡要描述:

電子元器件失效分析經常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析,其首要要求就是在避免人為損傷的前提下,展現內部缺陷形貌。

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更新日期:2023-05-31

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離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊
品牌廣電計量加工定制
服務區域全國服務周期常規3-5天
服務類型元器件篩選及失效分析服務資質CMA/CNAS認可
證書報告中英文電子/紙質報告增值服務可加急檢測
是否可定制是否有發票

離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊服務內容

離子研磨(CP)測試是在真空條件下,離子槍中低壓惰性氣體(氬)離子化,出射的陽離子又經加速,獲得具有一定速度的離子束投射到樣品表面,由于離子帶正電荷,其質量比電子大數千、數萬倍,所以離子束比電子束具有更大的撞擊動能,靠微觀的機械撞擊能量加工樣品。廣電計量擁有檢測設備,提供一站式離子研磨(CP)測試服務。


服務范圍

主要用于半導體材料、電池電極材料、光伏材料、不同硬度合金、巖石礦物質、高分子聚合物、軟硬復合材料、多元素組成材料等的截面制樣、界面表征。


檢測項目

離子研磨能實現無應力的橫截面和幾乎所有材料刨面,揭示了樣品的內部結構同時限度地減少變形或損壞,即的截面制樣、界面表征。


相關資質

CNAS


測試周期

常規5-7個工作日,可加急


離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊服務背景

離子研磨通過氬離子束物理轟擊樣品,達到切割或表面拋光的作用。為什么要進行表面拋光?那是因為在對精細電子元器件切片的時候,往往會因為切片造成了金屬延展、顆粒物填充等情況,對后續的檢查帶來不利影響。而這些就是前文提到的人為損害。因此,我們對樣片進行表面拋光,可以在減免人為損傷的前提下,展現內部缺陷形貌。


我們的優勢

1、配合牽頭“面向集成電路、芯片產業的公共服務平臺建設項目"“面向制造業的傳感器等關鍵元器件創新成果產業化公共服務平臺"等多個項目。

2、在集成電路及SiC領域是技術能力全面的第三方檢測機構之一,已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個型號的芯片驗證。

3、在車規領域擁有AEC-Q及AQG324服務能力,獲得了近50家車廠的認可,出具近300份AEC-Q及AQG324報告,助力100多款車規元器件量產。


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