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IGBT及第三代半導體器件全參數測試

簡要描述:

廣電計量專家團隊深入解讀IGBT測試相關標準,建立功率模塊可靠性驗證技術能力,可以為功率半導體產業上下游企業提供IGBT及第三代半導體器件全參數測試驗證報告。

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更新日期:2023-05-30

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IGBT及第三代半導體器件全參數測試
品牌廣電計量加工定制
服務區域全國服務周期常規3-5天
服務類型元器件篩選及失效分析服務資質CMA/CNAS認可
證書報告中英文電子/紙質報告增值服務可加急檢測
是否可定制是否有發票

IGBT及第三代半導體器件全參數測試服務范圍

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導體器件等分立器件,以及上述元件構成的功率模塊。


IGBT及第三代半導體器件全參數測試檢測標準

l  AEC-Q101分器件認證

l  MIL-STD-750半導體器件試驗?法

l  IEC60747系列SemiconductorDevices,DiscreteDevices

l  GB/T29332半導體器件-器件-9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

l  AQG324功率模塊?規認證


檢測項目


試驗類型

試驗項?

靜態參數

BVDSS、IDSS、IGSS、VGS(th)、RDS(on)、VDS(on)、VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、gfs、Vgs(pl)…

動態參數

td(on)、tr、td(off)、tf、Eon、Eoff、trr、Qrr、Irrm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…

其他參數

Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOA…



相關資質

CNAS


服務背景

功率器件在新能源汽車、智能電網等領域有廣泛應用,其中,IGBT技術瓶頸不斷被打破,第三代半導體功率器件也開始由實驗室階段步?商業應用。通常這些新型器件測試要求更?的電壓和功率?平,更快的開關時間,對測試設備及人員技術要求?,在研發時間與成本的雙重壓力下,全參數測試成為不少制造商的難題。


我們的優勢

廣電計量積極布局新型IGBT及第三代半導體功率器件的測試業務,引進測試技術,為功率半導體產業上下游企業提供器件全參數檢測服務。同時,廣電計量通過構筑檢測認證與分析?體化平臺,為客?提供器件可靠性驗證及失效分析,幫助客戶分析失效機理,指導產品設計及?藝改進。


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